The website of I.revitalise uses cookies to improve your user experience.

+

Wit Licht Interferometrie

Operator: Standaard inbegrepen

Contactloze optische methode voor het meten van de oppervlaktehoogte

Beschrijving

Contactloze optische methode voor het meten van de oppervlaktehoogte op 3D structuren met oppervlakteprofielen die variƫren tussen tientallen nanometers en enkele centimeters. Deze eigenaar heeft uitgebreide R&D-competenties in de wereld van de optiektechniek.

Technische specificaties

  • Oppervlaktehoogtebereik : Van 1cm tot 10nm

Kwaliteitslabels

  • ISO 9001
  • Meer dan 50 jaar ervaring in de sector