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Analyse par diffraction des rayons X

Opérateur: Toujours inclus

Analyser toutes sortes de matières, des fluides aux poudres et cristaux.

Description

La XRD est une méthode de caractérisation des matériaux et de contrôle de la qualité. La structure cristalline provoque la diffraction d'un faisceau de rayons X incident dans plusieurs directions spécifiques. La mesure des intensités et des angles de ces faisceaux diffractés peut produire une image en trois dimensions de la densité d'électrons dans le cristal. A partir de cette densité électronique, les positions moyennes des atomes dans le cristal peuvent être déterminées, ainsi que leurs liaisons chimiques, ....
Ce propriétaire possède de nombreux équipement de R&D dans le milieu de l'ingénierie optique.

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